투과전자 현미경(TEM:transmission electron microcope)의 원리와 응용
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작성일 24-06-01 13:01
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AEM은 별도의 발전된 기…(drop)
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투과전자 현미경(TEM:transmission electron microcope)에 관하여 그 기기구성과 얻을 수 있는 영상정보에 대하여 introduction
레포트/공학기술
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다. TEM의 근원은 1929년 독일의 Ernst Ruska가 음극관의 연구 중에 직경 0.3mm인 양극 조리개의 영상을 확대시킨 實驗(실험)에 있다아 이 성과는 초점거리가 작은 전자기 렌즈를 고안할 수 있었기 때문인데, 1925년에 de Broglie의 입자물결의 움직임 theory(이론)을 이해하지 못한 채 전자빔으로 물체의 영상을 확대시킬 수 있음을 증명해준 획기적인 사건이었다. 1931년 4월 7일 Ruska는 백금 그리드를 전자빔으로 2단계 확대시켜 영상화하는 데 성공하여 전자빔을 사용한 현미경의 가능성을 처음으로 보여 주었다. 가속전압은 50kV였으며 배율은 13배였다.
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투과전자 현미경(TEM:transmission electron microcope)에 관하여 그 기기구성과 얻을 수 있는 영상정보에 대하여 소개 , 투과전자 현미경(TEM:transmission electron microcope)의 원리와 응용공학기술레포트 ,
투과전자 현미경(TEM:transmission electron microcope)의 원리와 응용
설명
2. 투과전자현미경의 발전history
투과현미경(TEM)의 발전은 입자물리와 電磁氣學(전자기학) 의 발전과 그 궤를 같이 한다. Ruska가 고안한 최초의 TEM은 두 개의 전자기 렌즈로 물체의 상을 확대시키도록 되어 있어서 현재 상품화된 TEM의 기본 요소를 모두 갖추고 있다아 당시 Ruska와 Max Knoll은 이 장치를 전자현미경이라고 이름하지 않았으나 이 기초적 연구결과로 Ruska는 1986년에 노벨물리학상을 수상하게 된다 반도체와 전자제어 기술의 발전으로 80년대 이후 분석전자현미경(ATEM:analytical TEM)의 보급이 보편화되었다.
